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最新消息| 科學家研發DeepKey防偽技術:更好確保珠寶等高價值產品真實性 | 2022-09-26 |
| 文章来源：由「百度新聞」平台非商業用途取用"https://new.qq.com/omn/20201225/20201225A0B0V300.html" ▼來自新加坡國立大學(NUS)的科研團隊近日開發了一種全新防偽技術，可以更好地確保珠寶、電子產品、藥品等高價值產品的真實性。科研團隊將這項技術稱之為DeepKey，混合皺褶的二維薄膜和深度學習，提供了高級別的耐用性和快速認證。DeepKey基于物理不可克隆功能（PUF）模式，這是一種無法復制的獨特物理標識，目前已經部署到微處理器等部分領域中。不過，NUS的研究人員表示制造PUF標簽工藝比較復雜，而且它們會受到環境不穩定和認證時間長的影響。他們相信找到了一種更好的解決方案，從一個簡單的氣球開始。該團隊成員JingLin博士解釋道：“首先，我們會給氣球充氣，然后在表面刷上粘性的2D材料墨水。一夜的風干，我們將氣球放氣。由于2D材料和乳膠基材之間的界面機械不匹配，在收縮過程中會產生大面積的皺褶PUF圖案。這些PUF圖案可以被切割成所需的尺寸后，通常情況下，一次可以制作數百張標記”。然后再使用電子顯微鏡對這些圖案進行成像，再由深度學習軟件進行分析，在幾分鐘內對獨特的圖案進行分類和驗證。在團隊看來，這標志著一個重大的進步，相比于如今基于PUF的技術，這些圖案需要通過搜索一個龐大的數據庫來驗證，這限制了它們的使用。Jing表示：“整個過程只需要不到3.5分鐘，其中大部分時間都在等待電子顯微鏡讀取時間上。認證本身的速度非常快，不到20秒”。這歸結于模式上的明顯特征，深度學習軟件在經過訓練后，能夠更容易識別。"我們利用深度學習模型將PUF模式預先歸類為子組，因此搜索和比較算法是在一個更小的數據庫中進行的，這就縮短了整體的認證時間。"Jing解釋道。目前，該團隊正在繼續工作，希望進一步縮短認證時間。科技前沿TechEdge掃這里，照亮未來你“在看”我嗎？ 關鍵字標籤：防偽雷射標籤 |
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